Üsna sageli pole elektroonikaseadmete ehitajal või remontijal mitte ühtegi mõõteriista peale universaalse multimeetri. Ometi on võimalik sellega leida üles enamus vigadest.
Juhtmeid kontrollitakse testriga oommeetri piirkonnal või summeri testi piirkonnal, mis on eriti mugav, kuid kahjuks see võimalus puudub odavatel mõõteriistadel. Korras juhtme takistus peab olema nullilähedane ja ei tohi muutuda juhtme liigutamisel. Kui aga takistus muutub või on summeri heli katkendlik, on järelikult juhe defektiga. Täieliku katkestuse korral näitab oommeeter lõpmata suurt takistust.
Takistite põhiveaks on kas katkestus või siis takistuse suurenemine. Lühist esineb harva. Takisti mõõdetakse oommeetriga üle. Takisti takistus peab vastama ligikaudu nominaalväärtusele. Mõõtetulemus ei tohi muutuda erinevatel mõõtmistel, mis viitab sellele, et takistis on mikropaod ja see takisti on kõlbmatu.
Dioodide kontrolliks on enamusel mõõteriistadel vastav funktsioon olemas aga saab mõõta ka oomeetriga. Korras dioodil peavad erinema päri- ja vastutakistused tunduvalt ehk tuleb mõõta dioodi takistust ühtepidi ja siis teistpidi. Samuti ei tohi dioodi takistus mõõtmisel kõikuda. Juhul, kui mõlemas suunas mõõdetud takistused on väga sarnased , mõlemas suunas on katkestus või lühis, on diood rikkis.
Multimeetri dioodi testfunktsioon laseb dioodist läbi pärisuunas mõnemilliamprise voolu ja siis mõõdab tekkinud pinget dioodil .Korras dioodi puhul jääb see pinge 0 – 1 voldi vahelisse piirkonda, kusjuures ränidiood annab 500..600mV, stabilitron umbes 700mV,germaaniumdiood umbes 100..200mV ,schottky diood annab 110..300mV. Valgusdioodid (juhul kui mõõteriist niikaugele näitab) peavad helendama hakkama ja olenevalt värvist on pinge 2...4 V
Kuna bipolaartransistor sisaldab endas kahte siiret, mida võib vaadelda kui kahte dioodi, saab kasutada dioodi kontrollimismetoodikat. Lisaks tuleb veel kontrollida, et pole lühist emitteri ja kollektori vahel. Suure võimsusega transistoridesse võib olla sisse ehitatud veel kaitsedioode ja olla ka baasi ning emitteri vahel takisti. Neid transistore saab kontrollida ainult lühise ja katkestuse suhtes. Väljatransistoritel saab testriga kontrollida ainult lühiste olemasolu. Üheks harvaesinevaks rikkeks transistoride puhul on parameetrite halvenemine. Sellise veakahtluse korral aitab asendusvõte.
Tavaliste kondensaatorite puhul saab testriga kontrollida ainult nendes lühise olemasolu ,mõõtes nende takistust. Korras kondensaatori takistus peab olema vähemalt megaoomides (kui tester näitab lõpmatust on hea).
Elektrolüütkondensaatoreid saab oommeetriga (eriti hea on osutimõõteriist) kontrollida nii: Oomeeter tuleb panna kõige suurema piirkonna peale. Oomeetri külgeühendamisel peab näit minema nullilähedaseks ja siis hakkama takistus kasvama. Samuti peab juhtuma kui ühendata kondensaator teistpidi. Kui oomeeter näitab kohe mingit takistust, siis on kondensaator oma mahtuvuse kaotanud.
Kondensaatorite mahtuvuse kadu on ilma spetsiaalriistata raske tuvastada. Sellepärast on soovituslik kasutada ka asendusvõtet. Kahtlustatav kondensaator asendatakse kindlalt korrasolevaga ja võrreldakse tulemusi.
Oomeetriga saab kontrollida mähiste korrasolekut ja nendevahelist lühist. Lühiskeerdude olemasolu (kui pole täielik lühis) tavalise testriga kindlaks teha ei saa. Võrgutrafos lühiskeerdude olemist saab hinnata sellega, et lülitada koormuseta trafo primaarmähis vooluvõrku. Kui trafo lühikese ajaga soojaks läheb, siis on trafos lühiskeerud.
Kui väliselt puuduvad riknemise tundemärgid, siis saab rikkis mikroskeemi kindlaks teha ainult ahela töörežiimi kõrvalekaldeid uurides.
(c) Martin Jaanus 2004